X射线衍射（XRD）可进行材料物相（矿物组成）分析，是用来确定纳米材料晶体结构的最常用的测试手段之一，型号为D8 ADVANCE A25，如下图所示。

扫描电子显微镜（SEM）可对材料的微观结构进行表面形貌及断口分析，配合能谱仪对元素进行定性及半定量分析，型号为Gemini SEM 300，如下图所示。